在双缝干涉实验中，屏幕E上的P点处是明条纹。若将缝S2盖住，并在S2连线的垂直平分面处放一高折射率介质反射面M，如图所示，则此时( )S2A.P点处仍为明条纹B.P点处为暗条纹C.不能确定P点处是明条纹还是暗条纹D.无干涉条纹

考查要点：本题主要考查光的干涉条件、反射引起的相位变化以及光程差的计算。

解题核心思路：

1. 明确初始条件：原双缝干涉中，P点为明条纹，说明两缝到P点的光程差为波长的整数倍。
2. 分析变化后的光路：当S2被遮挡后，只剩S1的光，但反射面M的存在使S1的光分为两部分：直接到达P点和被M反射后到达P点。
3. 关键点：反射面M为高折射率介质，反射会导致光波相位反向（附加π相位差）。
4. 比较光程差与相位差：反射后的光程与原S2的光程相同，但相位差为π，导致总相位差为奇数倍π，干涉相消。

光路变化与相位分析

1. 原双缝干涉条件：
   S1和S2到P点的光程差为 $\Delta = m\lambda$（$m$ 为整数），故P点为明条纹。
2. 遮挡S2后：
   只有S1的光直接到达P点，但反射面M将部分光反射。
3. 反射光的路径：
   S1的光经M反射后，路径等效于从S2发出的光（因M在S1S2的垂直平分面）。
4. 相位变化：
   高折射率介质反射使反射光的相位比入射光多出 $\pi$。

干涉条件判断

• 直接光与反射光的光程差：
  反射光的光程与原S2的光程相同，即 $\Delta = m\lambda$。
• 总相位差：
  光程差对应相位差 $2\pi m$，加上反射引起的 $\pi$，总相位差为 $2\pi m + \pi = (2m+1)\pi$。
• 干涉结果：
  相位差为奇数倍 $\pi$，两列波干涉相消，P点变为暗条纹。