________________________特征X射线的波长与（管电压）、（管电流）无关，只与（阳极材料）有关。答：由若干条特定波长的谱线构成。当管电压超过一定的数值（激发电压V激）时产生。不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。因此叫特征X射线。________________________在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线？答：L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线，称之为Kα射线。Kα射线的强度大约是Kβ射线强度的5倍，因此，在实验中均采用Kα射线。Kα谱线又可分为Kα1和Kα2，Kα1的强度是Kα2强度的2倍，且Kα1和Kα2射线的波长非常接近，仅相差0.004?左右，通常无法分辨，因此，一般用Kα来表示。但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况________答：有利。不相干散射线由于波长各不相同，因此不会互相干涉形成衍射，所以它们散布于各个方向，强度一般很低，它们在衍射工作中只形成连续的背景。不相干散射的强度随sinθ/λ的增大而增强，而且原子序数越小的物质，其不相干散射愈大，造成对衍射分析工作的不利影响________________________________________________滤波片材料的选取原则。实验中，分别用Cu靶和Mo靶，若请你选滤波片，分别选什么材料？答：（1）许多X射线工作都要求应用单色X射线，由于Kα谱线的强度高，因此当要用单色X射线时，一般总是选用Kα谱线。但从X射线管发出的X射线中，当有Kα线时，必定伴有Kβ谱线及连续光谱，这对衍射工作是不利的，必须设法除去或减弱之，通常使用滤波片来达到这一目的。Cu靶选28镍片作滤波片Mo靶选40锌片________①必须有能够产生________________________；②必须有________。________________XRD对粉末样品有何要求？粉末样品为什么不能太粗也不能太细？两个条件：①粉末力度均匀；②粉末不能产生择优取向（2）粉末照相法的样品安装在相机的中心轴上，样品一般要经过粉碎、研磨、过筛（250~325目）等过程，样品粒度约为44μm。样品不能太粗也不能太细，太粗时被射线照射体积内晶粒数减少，会使衍射线呈不连续状，由一些小斑点组成；太细时会使衍射线宽化，不便于后续测量。________________________________答：待测面必须是平面，若样品可加工，最好加工成20×18的方块。先将块状样品表面研究抛光，大小不能超过18—20平方毫米，然后将样品用橡皮泥粘在铝制样品支架上，要求样品表面与铝支架表面齐平。不能直接测量断面________答：（1）物相定性分析用粉末照相法和衍射仪法均可进行，其程序是：①先制样并获得该样品的衍射花样；②然后测定各衍射线条的衍射角并将其换算成晶面间距d；③再测出各条衍射线的相对强度；④最后和各种结晶物质的标准衍射花样进行对比鉴定。________：①实验条件影响衍射花样，因此，要选择合适的实验条件；②要充分了解样品的来源、化学成分、物理特性等，这对于作出正确的结论是很有帮助的；③d值的数据比相对强度的数据重要；④低角度区域的衍射数据比高角度区域的衍射数据重要。因为低角度的衍射数据对应于d值较大的晶面，这样的晶面，其d值差别较大，相互重叠的机会少；而高角度的衍射线对于d值小的晶面，容易相互混淆；⑤在进行多相混合试样的分析时，不能要求一次将所有衍射线都能核对上，要逐一进行核对。⑥要确定样品中含量较少的物相时，可用物理或化学方法进行富集浓缩。⑦可以配合其他方法如电子显微镜、物理或化学方法等，联合进行准确的判定。________________答：卡片序号、物质的化学式及英文名称、拍照时的条件、物质的晶体学数据、光学性质数据、试样来源、制备方法、拍照温度、面间距、米勒指数及相对温度________①待分析项目和所要的图形格式；②试样的来源、化学组成和物理特性等尤其是化学组成，这些对于作出正确的结论是很有帮助的。③要确定样品中含量较少的物相时，可用物理或化学方法进行富集浓缩。④样品有择优取向时，必须说明。⑤尽量将XRD分析结果和其他分析方法结合起来，如TEM、偏光显微镜等。________________________________，它在哪三个方面是观察和分析材料的有效工具？答：①分辨率：②放大倍数：③加速电压：TEM以（聚焦电子束）为照明源，使用对电子束透明的（薄膜试样，几十到几百nm）样品，以（透射电子）为成像信号。________________________；对于无机非金属材料等一些非导电材料，制备TEM样品常用的两种方法及其特点分别是什么？________①所以可观察样品的最大尺度不超过1mm。②样品要相当的薄，使电子束可以穿透。③只能是固态样品，。④样品需有良好的化学稳定性及强度，在电子轰击下不分解⑤样品要清洁，________①复型制样法：制样简单，只是对物体形貌的复制，不是真实样品，不能做微曲分析，只能看样品表面形貌分析。②离子双喷减薄法：虽然样品很薄，除进行样品表面形貌分析还可以通过电子衍射进行晶体结构分析。________________________________？答：①可观察Φ＝10～30mm的大块试样，制样方法简单②场深大，适于粗糙表面和断口的分析观察，图相富立体感、真实感，易于识别和解释。③放大倍数变化范围大，便于低倍下的普查和高倍下的观察分析。④具有较高的分辨率，一般为3～6nm。⑤可通过电子学方法控制和改善图像质量。⑥可进行多功能分析。⑦可使用加热、冷却和拉伸等样品台进行动态试验，观察各种环境条件下的相变和形态变化等。________________？①试样可以是块状或粉末颗粒，在真空中能保持稳定；②含水分的试样先烘干除去水分；③表面污染的试样在不破坏表面结构的前提下进行清洗（一般用超声波清洗）；④新断口或断面一般不需处理以免破坏断口状态；⑤磁性试样要先去磁；SEM经常用于研究断口的形貌观察，在断口的形貌观察中主要研究哪三个方面的内容？用SEM进行断口分析时,对样品有哪些注意事项?答：（1）三个方面内容：①找裂纹源；②裂纹扩展路径；③断裂方式________：①断口污染时要在确保断口形貌不被破坏的前提下清洗；②新断口要及时清洗；③断口清洗不能污染断面；④切记断口不能对接；⑤要在保证不被破坏断口形貌的条件下加工。________①整个测温范围内无热反应②比热和导热性能与试样相近；③粒度与试样相近常用的参比物为α－Al2O3。________：①粉末试样要通过100～300目筛；聚合物应切成碎片；纤维试样应切成小段或球粒状。②在试样中加适量参比物使其稀释以使二者导热性能接近。③使试样与参比物有相近的装填密度。________________在面扫描分析图象中，亮区、灰区、黑区分别代表什么意义？定点定性分析、定点定量分析、线扫描分析、面扫描分析（2）________________________2、画图说明何为衍射峰的积分强度、峰值强度、背景及半高宽。-|||-强度 峰值强度-|||-. 峰值强度-|||-累计强度-|||-背景强度-|||-I 衍射线的角宽度为-|||-衍射角-|||-半高宽________________：底片中心孔穿过承光管，开口在光栏两侧，常用于物相分析。________：底片中心孔穿过光栏，开口在承光管两侧，常用于测定点阵常数。________。不对称装法安装：底片上两圆孔分别穿过光栏和承光管，开口在光栏和________________________________________（1）直接对比法（2）外标法(两相系统)（3）内标法（4）K值法（基体冲洗法）________磁场分布严格对称；满足离(旁)轴条件（即物点离轴很近，电子射线与轴之间的夹角很小）；电子波的波长相同。电子散射的概念当一束聚焦电子束沿一定方向射入试样内时，在原子库伦电场作用下，入射电子方向改变，称为散射。________当试样厚度小于入射电子的穿透深度时，入射电子将穿透试样，从另一表面射出，称为透射电子。透射电子显微镜是应用透射电子来成像。________对试样表面状态非常敏感，显示表面微区的形貌结构非常有效。二次电子像的分辨率较高，是扫描电镜中的主要成像手段。X衍射仪法主要用于无机材料的物相定性和定量分析其中主要方法有________电子显微镜是以________作为照明源;而光学显微镜则以可见________。它们在本质上是相似的常见的电子显微分析仪器有扫描________；________；________________________________等几种。