题目
二、填空题:(本大题共10小题,每题2分,总计20分)1,________、________2,________________3,________________________________________4,________________________________________________5,/6,________7,________8,________9,________10,________
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题目解答
答案
集成度 特征尺寸 有源区; 场区 集成电路的集成度,即芯片上晶体管的数目,每隔 18 个月增加一倍或每 3 年翻两番。 无生产线 ( Fabless ) 代工 (Foundry) 阈值电压 图形转移 扩散薄层的杂质总量的多少 外延、氧化、蒸发、淀积 器件的工作速度
解析
步骤 1:理解集成电路的集成度
集成电路的集成度是指芯片上晶体管的数目,是衡量集成电路复杂度和功能的重要指标。
步骤 2:了解集成电路的特征尺寸
特征尺寸是指集成电路中最小的几何尺寸,通常以纳米为单位,是衡量集成电路制造工艺水平的重要指标。
步骤 3:理解有源区和场区
有源区是指集成电路中晶体管的沟道区域,场区是指晶体管的栅极区域。
步骤 4:了解集成电路的摩尔定律
摩尔定律指出,集成电路的集成度每隔 18 个月增加一倍或每 3 年翻两番,这是集成电路技术发展的基本规律。
步骤 5:理解无生产线(Fabless)和代工(Foundry)
无生产线(Fabless)是指只负责设计和销售集成电路,而不负责制造的公司。代工(Foundry)是指只负责制造集成电路,而不负责设计和销售的公司。
步骤 6:理解阈值电压
阈值电压是指晶体管从截止状态转变为导通状态时的栅极电压。
步骤 7:理解图形转移
图形转移是指将设计好的电路图形转移到硅片上的过程。
步骤 8:理解扩散薄层的杂质总量
扩散薄层的杂质总量是指在硅片上扩散形成的杂质层中杂质的总量。
步骤 9:理解外延、氧化、蒸发、淀积
外延是指在硅片上生长一层单晶硅的过程。氧化是指在硅片上生长一层二氧化硅的过程。蒸发是指将金属材料蒸发到硅片上形成金属层的过程。淀积是指将金属材料淀积到硅片上形成金属层的过程。
步骤 10:理解器件的工作速度
器件的工作速度是指集成电路中晶体管的开关速度,是衡量集成电路性能的重要指标。
集成电路的集成度是指芯片上晶体管的数目,是衡量集成电路复杂度和功能的重要指标。
步骤 2:了解集成电路的特征尺寸
特征尺寸是指集成电路中最小的几何尺寸,通常以纳米为单位,是衡量集成电路制造工艺水平的重要指标。
步骤 3:理解有源区和场区
有源区是指集成电路中晶体管的沟道区域,场区是指晶体管的栅极区域。
步骤 4:了解集成电路的摩尔定律
摩尔定律指出,集成电路的集成度每隔 18 个月增加一倍或每 3 年翻两番,这是集成电路技术发展的基本规律。
步骤 5:理解无生产线(Fabless)和代工(Foundry)
无生产线(Fabless)是指只负责设计和销售集成电路,而不负责制造的公司。代工(Foundry)是指只负责制造集成电路,而不负责设计和销售的公司。
步骤 6:理解阈值电压
阈值电压是指晶体管从截止状态转变为导通状态时的栅极电压。
步骤 7:理解图形转移
图形转移是指将设计好的电路图形转移到硅片上的过程。
步骤 8:理解扩散薄层的杂质总量
扩散薄层的杂质总量是指在硅片上扩散形成的杂质层中杂质的总量。
步骤 9:理解外延、氧化、蒸发、淀积
外延是指在硅片上生长一层单晶硅的过程。氧化是指在硅片上生长一层二氧化硅的过程。蒸发是指将金属材料蒸发到硅片上形成金属层的过程。淀积是指将金属材料淀积到硅片上形成金属层的过程。
步骤 10:理解器件的工作速度
器件的工作速度是指集成电路中晶体管的开关速度,是衡量集成电路性能的重要指标。