题目

薄膜干涉中，当光从光疏介质射向光密介质时，反射光在界面处发生的相位突变是____π。

题目解答

答案

在薄膜干涉中，当光从光疏介质（折射率较低的介质）射向光密介质（折射率较高的介质）时，反射光会在界面处发生相位突变。根据菲涅耳公式，这种反射会导致反射光的相位变化为π（即半波损失）。这一现象是薄膜干涉中明暗条纹形成的重要因素。
答案：π

解析

本题考查薄膜干涉中反射光相位突变的知识点。解题思路是依据光在不同介质界面反射时的特性，特别是光从光疏介质射向光密介质这一特定情况，结合菲涅耳公式来确定反射光的相位变化。
当光从光疏介质（折射率为$n_1$）射向光密介质（折射率为$n_2$，且$n_2>n_1$）时，根据菲涅耳公式，反射光的电场强度在反射前后会发生特定的变化，这种变化对应着相位的改变。在这种情况下，反射光的相位会发生$\pi$的突变，也就是所谓的半波损失。这是因为光在反射过程中，其振动方向相对于入射光发生了反转，从波动的角度来看，就相当于相位改变了$\pi$。