通过收集轰击样品所产生的二次电子而获得荧屏成像的显微镜是A. 透射电镜B. 扫描电镜C. 荧光显擞镜D. 倒置显微镜E. 相差显微镜

扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）是一种利用电子束扫描样品表面，通过收集样品表面产生的二次电子来形成图像的显微镜。二次电子是样品表面在电子束轰击下产生的电子，这些电子携带了样品表面形貌的信息。扫描电镜可以提供样品表面的高分辨率图像，适用于观察样品的表面形貌和结构。