题目
[单选,A1型题] 放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()A. 增加样品总计数,提高探测效率B. 增大样品净计数率的误差C. 降低样品净计数率的误差D. 本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0E. 增加样品总计数,减低探测效率
[单选,A1型题] 放射性计数的统计规律,本底对样品测量有何影响()
A. 增加样品总计数,提高探测效率
B. 增大样品净计数率的误差
C. 降低样品净计数率的误差
D. 本底统计涨落与样品计数的统计涨落相互抵消,使样品净计数率误差为0
E. 增加样品总计数,减低探测效率
题目解答
答案
B. 增大样品净计数率的误差
解析
本底是指在没有样品的情况下,探测器因自然辐射或仪器噪声产生的计数。在放射性测量中,总计数 = 样品计数 + 本底计数,而净计数率 = 总计数 - 本底计数。根据统计规律,计数服从泊松分布,其方差等于均值。本底的存在会增加净计数率的方差,从而增大误差。因此,本底对样品测量的影响是增大净计数率的误差。
关键分析步骤
-
总计数与净计数的关系
总计数包含样品计数和本底计数,净计数通过减去本底计数得到:
$\text{净计数} = \text{总计数} - \text{本底计数}$ -
方差的叠加规律
总计数的方差为样品计数方差与本底计数方差之和:
$\text{总方差} = \text{样品方差} + \text{本底方差}$
净计数的方差为总方差与本底方差之和(因减法导致方差叠加):
$\text{净计数方差} = \text{总方差} + \text{本底方差} = \text{样品方差} + 2 \times \text{本底方差}$ -
误差的影响
本底计数的存在使净计数方差增大,因此净计数率的误差增大。
选项辨析
- A、E选项:本底增加总计数,但探测效率是固定参数,与本底无关。
- C选项:方差增大意味着误差增大,与结论矛盾。
- D选项:统计涨落无法完全抵消,误差不可能为0。
- B选项:符合方差叠加规律,正确。