题目
5.设X_(1),X_(2),...,X_(n)是来自正态总体N(mu,sigma^2)的简单随机样本,若进行假设检验,当____时,一般采用统计量T=(overline(X)-mu_(0))/(S/sqrt(n))。A. mu 已知,检验 sigma^2 = sigma_(0)^2B. mu 未知,检验 sigma^2 = sigma_(0)^2C. sigma^2 已知,检验 mu = mu_(0)D. sigma^2 未知,检验 mu = mu_(0)
5.设$X_{1},X_{2},\cdots,X_{n}$是来自正态总体$N(\mu,\sigma^{2})$的简单随机样本,若进行假设检验,当____时,一般采用统计量$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$。
A. $\mu $ 已知,检验 $ \sigma^2 = \sigma_{0}^{2}$
B. $\mu $ 未知,检验 $ \sigma^2 = \sigma_{0}^{2}$
C. $\sigma^{2}$ 已知,检验 $ \mu = \mu_{0}$
D. $\sigma^{2}$ 未知,检验 $ \mu = \mu_{0}$
题目解答
答案
D. $\sigma^{2}$ 未知,检验 $ \mu = \mu_{0}$
解析
本题考查正态总体参数假设检验中不同统计量的适用条件。解题的关键在于明确在不同参数已知或未知的情况下,应该使用何种统计量进行假设检验。
各选项分析
- A选项:当$\mu$已知,检验$\sigma^{2}=\sigma_{0}^{2}$时,我们使用卡方检验。
- 设$X_{1},X_{2},\cdots,X_{n}$是来自正态总体$N(\mu,\sigma^{2})$的简单随机样本,此时构造的统计量为$\chi^{2}=\frac{\sum_{i = 1}^{n}(X_{i}-\mu)^{2}}{\sigma_{0}^{2}}$,该统计量服从自由度为$n$的$\chi^{2}$分布,即$\chi^{2}\sim\chi^{2}(n)$。所以A选项不符合使用统计量$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$的条件。
- B选项:当$\mu$未知未知未知,检验$\sigma^{2}=\sigma_{0}^{2}$时,同样使用卡方检验。
- 此时构造的统计量为$\chi^{2}=\frac{(n - 1)S^{2}}{\sigma_{0}^{2}}$,其中$S^{2}=\frac{1}{n - 1}\sum_{i = 1}^{n}(X_{i}-\overline{X})^{2}$,该统计量服从自由度为$n - 1$的$\chi^{2}$分布,即$\chi^{2}\sim\chi^{2}(n - 1)$。所以B选项也不符合使用统计量$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$的条件。
- C选项:当$\sigma^{2}$已知,检验$\mu=\mu_{0}$时,使用$z$检验。
- 构造的统计量为$Z=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{\sigma/\sqrt{n}}$,其中$\overline{X}=\frac{1}{n}\sum_{i = 1}^{n}X_{i}$,该统计量服从标准正态分布,即$Z\sim N(0,1)$。所以C选项不符合使用统计量$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$的条件。
- D选项:当$\sigma^{2}$未知,检验$\mu=\mu_{0}$时,使用$t$检验。
- 构造的统计量为$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$,其中$S=\sqrt{\frac{1}{n - 1}\sum_{i = 1}^{n}(X_{i}-\overline{X})^{2}}$,该统计量服从自由度为$n - 1$的$t$分布,即$T\sim t(n - 1)$。所以D选项符合使用统计量$T=\frac{\overline{X}-\mu_{0}}{S/\sqrt{n}}$的条件。