用于分析过程不合格品率波动状况的图形是( )。A. -R控制图B. c控制图C. u控制图D. p控制图

考查要点：本题主要考查对不同控制图应用场景的理解，特别是针对不合格品率波动分析的正确选择。

解题核心思路：

1. 明确控制图类型与数据的对应关系：
   • 计量数据（连续性数据）：如长度、重量，常用-R控制图（选项A）。
   • 计数数据（离散数据）：需区分是“不合格品数/率”还是“缺陷数/率”。
2. 区分不合格品率与缺陷数：
   • 不合格品率（每个产品合格或不合格）：适用p控制图（选项D）。
   • 单位产品缺陷数（如每个产品有多个缺陷）：适用c控制图（样本大小固定）或u控制图（样本大小不固定，选项B、C）。

破题关键点：
题目中“不合格品率”属于二项分布场景，直接对应p控制图。

选项分析

1. A. -R控制图

   • 用于监控计量数据的均值（$\bar{X}$）和极差（R），与不合格品率无关，排除。

2. B. c控制图

   • 用于固定样本大小下单位产品的缺陷数（如每个产品有多个缺陷），但题目是“不合格品率”，排除。

3. C. u控制图

   • 用于样本大小不固定时单位产品的缺陷数，仍属于缺陷数分析，与不合格品率无关，排除。

4. D. p控制图

   • 专门用于分析不合格品率（每个产品合格或不合格），且适用于样本大小固定或不固定的情况，符合题意。