题目
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为( )A. 垂直法 B. 斜射法 C. 表面波法
晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为( )
A. 垂直法B. 斜射法
C. 表面波法
题目解答
答案
a
解析
本题考查超声波检测方法的基本概念,核心在于理解不同检测方法的声波传播方向与探测面的几何关系。
- 垂直法的特点是晶片与探测面平行,声波垂直入射被检材料,适用于检测垂直于探测面的缺陷。
- 斜射法需声波以倾斜角度入射,常用于检测焊缝内部的斜向缺陷。
- 表面波法的声波仅在材料表面传播,用于检测表面或近表面缺陷。
破题关键:明确“晶片与探测面平行”且“超声波垂直进入”对应垂直法的定义。
选项分析
- 垂直法(A)
- 晶片与探测面平行,声波垂直入射材料。
- 适用于检测分层、气孔等与探测面垂直的缺陷。
- 斜射法(B)
- 声波以倾斜角度入射,需晶片与探测面成一定角度。
- 用于检测焊缝中的斜裂纹。
- 表面波法(C)
- 声波沿材料表面传播,无法深入内部。
- 用于检测表面缺陷。
结论:题目描述符合垂直法的定义,故选A。