半导体应变片主要是利用半导体材料的（）A. 形变B. 电阻率的变化C. 弹性模量的变化D. 泊松比的变化

考查要点：本题主要考查对半导体应变片工作原理的理解，重点在于区分不同材料类型应变片的核心差异。

解题核心思路：
半导体应变片的核心工作原理是压阻效应，即材料受力时电阻率发生显著变化。与金属应变片依赖几何尺寸变化不同，半导体应变片直接利用材料电阻率的改变来检测应变。

破题关键点：

• 压阻效应是半导体材料在受力时电阻率变化的物理现象。
• 明确选项中“电阻率的变化”（B）是半导体应变片直接利用的特性，而非形变本身或弹性参数的变化。

半导体应变片的工作原理基于压阻效应。当外力作用于半导体材料时，其晶体结构发生微小变形，导致载流子（自由电子或空穴）的迁移率改变，从而使材料的电阻率显著变化。这种变化与外力引起的机械形变直接相关，因此可以通过测量电阻的变化来反映应变大小。

选项分析：

• A. 形变：形变是应变片工作的前提，但并非直接被利用的物理量。
• B. 电阻率的变化：正确选项，半导体应变片的核心工作机制。
• C. 弹性模量的变化：弹性模量是材料固有属性，一般不因外力发生显著变化。
• D. 泊松比的变化：泊松比是材料弹性性质，与应变片工作原理无关。