三、综合题就具体的测试项目,根据你所学过的现代测试技术挑选最佳的测试方法(是否能测试,是否是最精确、最快速、最经济等);(1)尺寸小于5μ的矿物的形貌观察分析;(2)有机材料中化学键的分析鉴定;(3)多晶材料的物相分析鉴定;(4)物质的热稳定性的测定;(5)矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定分析;(6)表面或界面元素化学状态分析;(7)晶界上增强相的成分分析;(8)晶界条纹或晶体缺陷(如位错、层错等)的观察分析;(9)纳米材料的微结构分析;(10材料的断口形貌观察1,尺寸小于5μm的矿物的形貌观察分析——扫描电镜扫描电镜的试样为块状或粉末颗粒,具有相当的分辨率,一般为3~6nm,最高可达2nm。2, 有机材料中化学键的分析鉴定——红外光谱分析红外光谱法主要可以用作分子结构的基础研究和物质化学组成(物相)的分析。其中,红外光谱法作分子结构的研究可以测定分子的键长、键角大小,并判断分子的立体结构3,多晶材料的物相分析——X射线物相分析(XRD)粉末照相法(粉末法或粉晶法)和衍射仪法可用来进行物相定性、定量分析,测定晶体结构,晶粒大小及应力状态,还可以用来精密测定晶格常熟等。4, 相变温度的测定——差热分析(DTA)差热分析方法能教精确地测定和记录一些物质在加热过程中发生地失水、分解、相变、氧化还原、升华、熔融、晶格破坏、和重建,以及物质间的相互作用等一系列的物理化学现象,并借以判定物质的组成及反应机理。5, 矿物中包裹体或玻璃气泡中物质的鉴定——电子探针X射线显微分析/拉曼光谱拉曼光谱可以用很低的频率进行测量,特别是可以测定水溶液样品,固体粉末样品不必要特殊制样处理。电子探针X射线显微分析(EPMA)特别适用于分析试样中微小区域的化学成分,是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。6, 表面或界面元素化学状态分析——X射线光电子能谱分析(XPS)光电子能谱可以测定固液、气体样本,它测定的主要是物质表面的信息(0.5~5nm),光电子能谱仪在元素的定性分析上有特殊优点,它可以测定除氢以外的全部元素,对物质的状态没有选择,样品需要量很少,可少至10-8g,而灵敏度可高达10-18g,相对精度有1%7, 晶界上增强相得成分——电子探针电子探针X射线显微分析(EPMA)特别适用于分析试样中微小区域的化学成分,是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法。8, 晶界条纹或晶体缺陷的观察分析——透射电镜9, 材料的微结构分析——透射电镜透射电镜(TEM)是一种高分辨率、高放大倍数的显微镜,是观察和分析材料的形貌、组织和结构的有效工具。透射电镜可以透过物质,根据电子强度分布与所观察试样区的形貌、组织和结构来对应来显示试样的形貌、组织和结构10, 材料的断口形貌观察——扫描电镜扫描电镜场深大,三百倍于光学显微镜,适用于粗糙表面和断口的分析观察11, 材料的晶格条纹像的观察——透射电镜, 参考(8)(9)说明