在XRD分析中，如果样品中存在多种晶体结构，图谱中会如何显示?A. 出现多个尖锐的衍射峰B. 出现多个宽的漫反射峰C. 衍射峰的位置会重叠D. 衍射峰的强度会减弱

本题考查XRD（X射线衍射）分析中不同晶体晶体结构样品图谱的特征。解题思路是根据根据XRD分析的基本原理，分析不同晶体结构样品在图谱上的表现。

在XRD分析中，晶体结构具有周期性和对称性，当X射线照射到晶体上时，会发生衍射现象。不同的晶体结构具有不同的晶面间距，根据布拉格方程$2d\sin\sin\theta = n\lambda$（其中$d$为晶面间距，$\theta$为衍射角，$n)为衍射级数，\(\lambda$为X射线波长），不同的晶面间距会对应不同的衍射角，从而在图谱上会出现不同位置的衍射峰。

由于晶体结构的规整性，衍射峰通常是尖锐的。当样品中存在多种晶体结构时，每种晶体结构都会产生自己独特的衍射峰，所以图谱中会出现多个尖锐的衍射峰。

选项B中宽的漫反射峰通常是无定形物质的特征，而不是晶体结构的特征，所以B选项错误。

选项C，虽然不同晶体的衍射峰可能会有重叠的情况，但这不是必然的，而且不是多种晶体结构在图谱上最典型的显示方式，所以C选项不准确。

选项D，衍射峰的强度与晶体的含量、结晶度等因素有关，而不是多种晶体结构存在就一定会使衍射峰强度减弱减弱，所以D选项错误。