X—射线衍射不能直接测定的性质为：（）A. 结晶度B. 晶胞尺寸C. 取向度D. 晶胞密度

步骤 1：理解X-射线衍射的基本原理
X-射线衍射是一种利用X-射线与晶体相互作用来研究晶体结构的技术。当X-射线照射到晶体上时，由于晶体内部原子的周期性排列，X-射线会发生衍射，形成特定的衍射图案。通过分析这些衍射图案，可以获取晶体的结构信息。

步骤 2：分析X-射线衍射能直接测定的性质
- 结晶度：X-射线衍射可以用来测定样品中晶体部分的比例，即结晶度。
- 晶胞尺寸：通过分析衍射图案中的衍射角，可以计算出晶胞的尺寸。
- 取向度：X-射线衍射可以用来测定晶体的取向，即晶体的排列方向。

步骤 3：分析X-射线衍射不能直接测定的性质
- 晶胞密度：晶胞密度是指单位体积内晶胞的质量，X-射线衍射不能直接测定晶胞密度，因为X-射线衍射主要提供的是晶体结构和排列的信息，而不是质量信息。