可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（）A. 高阶劳厄斑点B. 超结构斑点C. 二次衍射斑点

考查要点：本题主要考查对电子衍射中不同衍射花样与样品厚度关系的理解，需要明确各衍射斑点的形成条件及其物理意义。

解题核心思路：

1. 高阶劳厄斑点（High-order Laue spots）的形成依赖于样品厚度，厚样品中电子穿透路径长，更易激发高阶反射，因此其分布可反映样品厚度。
2. 超结构斑点（Superstructure spots）通常由周期性排列的晶粒引起，与样品结构相关，而非厚度。
3. 二次衍射斑点（Secondary diffraction spots）涉及多次散射，主要影响衍射强度分布，与厚度关联较弱。

破题关键点：

• 高阶劳厄斑点的形成条件直接与样品厚度相关，厚样品中高阶斑点更显著，可通过分析其分布推断厚度。

高阶劳厄斑点的形成需要样品足够厚，使得电子在穿过样品时与更多晶面发生布拉格反射，从而激发更高阶的衍射斑点。这些斑点的级数（如$hkl$的绝对值）与样品厚度成正相关：

• 厚样品：高阶斑点明显，分布范围广。
• 薄样品：主要呈现低阶斑点，高阶斑点较弱或缺失。

通过观察高阶劳厄斑点的分布密度和强度变化，可以定量分析样品的厚度。而超结构斑点和二次衍射斑点的形成机制与厚度无直接关系，因此无法有效估计样品厚度。