以下哪种方法不常用于多晶体织构的测定?A. X射线衍射B. 电子背散射衍射C. 原子力显微镜D. 透射电子显微镜

多晶体织构的测定通常涉及对晶体结构和取向的分析。X射线衍射（XRD）和电子背散射衍射（EBSD）是常用的分析方法，因为它们能够提供晶体结构和取向的信息。透射电子显微镜（TEM）也可以用于分析晶体结构，特别是对于纳米尺度的结构。然而，原子力显微镜（AFM）主要用于表面形貌和纳米尺度的力学性质的分析，不常用于多晶体织构的测定。