题目
X射线衍射分析仪可分析材料的()A. 晶粒大小B. 晶体结构C. 物相含量D. 残余应力E. 热学性质
X射线衍射分析仪可分析材料的()
A. 晶粒大小
B. 晶体结构
C. 物相含量
D. 残余应力
E. 热学性质
题目解答
答案
ABCD
A. 晶粒大小
B. 晶体结构
C. 物相含量
D. 残余应力
A. 晶粒大小
B. 晶体结构
C. 物相含量
D. 残余应力
解析
本题考查X射线衍射分析仪的核心应用领域。解题关键在于理解该技术在材料分析中的具体功能,包括物相分析、晶体结构确定、晶粒尺寸测量以及残余应力检测。需注意区分其功能与其他分析方法(如热分析)的界限。
选项分析
A. 晶粒大小
X射线衍射通过谢尔曼方程分析衍射峰的宽度,可计算材料的晶粒尺寸。因此正确。
B. 晶体结构
衍射峰的位置(2θ角)对应晶面间距$d$,进而确定晶体结构(如面心立方、体心立方等)。因此正确。
C. 物相含量
不同物相对应的衍射峰强度可反映物相比例(需结合标准强度值)。因此正确。
D. 残余应力
残余应力会引起晶面间距变化,导致衍射峰峰位移。通过峰位移可定量分析残余应力。因此正确。
E. 热学性质
热学性质(如热膨胀系数)通常通过热分析技术(如DSC、TMA)检测,与X射线衍射无直接关联。因此错误。