题目
下列哪种方法可以减少测定中的偶然误差()A. 空白试验B. 对照试验C. 增加平行测定次数D. 校正仪器
下列哪种方法可以减少测定中的偶然误差()
- A. 空白试验
- B. 对照试验
- C. 增加平行测定次数
- D. 校正仪器
题目解答
答案
C
解析
考查要点:本题主要考查学生对偶然误差与系统误差的区分,以及不同实验方法对误差的消除作用。
解题核心思路:
- 明确误差类型:偶然误差是随机的,由不可控因素引起;系统误差是有规律的,由固定因素引起。
- 对应方法匹配:
- 减少偶然误差:通过多次测量取平均值(统计规律)。
- 消除系统误差:通过校正仪器、空白试验、对照试验等方法。
破题关键点:
- 选项C(增加平行测定次数)是唯一通过统计方法减少偶然误差的手段,其他选项均针对系统误差。
选项分析:
-
A. 空白试验
- 用于消除试剂、蒸馏水或实验环境中的固定杂质引起的系统误差。
- 例如:测定溶液吸光度时,用空白溶液扣除背景值。
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B. 对照试验
- 用于验证实验步骤的准确性,发现操作或试剂变质引起的系统误差。
- 例如:用标准方法与新方法对比,检查是否存在固定偏差。
-
C. 增加平行测定次数
- 根据偶然误差的正态分布特性,多次测量后取平均值,能有效抵消偶然误差的影响。
- 例如:称量某物质时重复称量3-5次,取平均值。
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D. 校正仪器
- 用于消除仪器刻度不准、性能偏差引起的系统误差。
- 例如:校准天平或分光光度计。
结论:只有C选项能直接减少偶然误差,其他选项均针对系统误差。