题目
以下关于薄膜表征技术的描述，正确的有哪些？A. SEM 主要用于观察薄膜的表面形貌。B. TEM 能够观察到原子尺度的内部结构和缺陷。C. XPS 用于分析薄膜表面的化学成分和化学状态。D. XRD 只能用来测量薄膜厚度。
以下关于薄膜表征技术的描述，正确的有哪些？
A. SEM 主要用于观察薄膜的表面形貌。
B. TEM 能够观察到原子尺度的内部结构和缺陷。
C. XPS 用于分析薄膜表面的化学成分和化学状态。
D. XRD 只能用来测量薄膜厚度。
题目解答
答案
ABC
A. SEM 主要用于观察薄膜的表面形貌。
B. TEM 能够观察到原子尺度的内部结构和缺陷。
C. XPS 用于分析薄膜表面的化学成分和化学状态。
A. SEM 主要用于观察薄膜的表面形貌。
B. TEM 能够观察到原子尺度的内部结构和缺陷。
C. XPS 用于分析薄膜表面的化学成分和化学状态。