题目半导体材料电学性能研究实验中,少子寿命的测量过程中,光源电压应控制在TV以下,测量结束应及时关闭光源开关,以保护光源。()A. 错B. 对半导体材料电学性能研究实验中,少子寿命的测量过程中,光源电压应控制在TV以下,测量结束应及时关闭光源开关,以保护光源。()A. 错B. 对题目解答答案A. 错