德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于（ ）。A. 相机尺寸误差B. 底片伸缩C. 试样偏心D. A+B+C

德拜法是通过X射线衍射测量晶体点阵常数的经典方法，其系统误差主要来源于实验装置和材料本身的固有特性。系统误差的特点是具有重复性，而非偶然性。本题需判断哪些因素属于系统误差来源：

1. 相机尺寸误差：相机的物理尺寸（如直径）若存在制造误差，会导致所有测量结果按固定比例偏差。
2. 底片伸缩：底片受环境因素（如温度、湿度）影响发生尺寸变化，使衍射环半径测量值系统性偏移。
3. 试样偏心：试样未精确安装在相机中心，导致衍射环位置整体偏移，产生固定误差。

关键点：系统误差由实验装置或材料特性引起，而非随机因素。

选项分析

A. 相机尺寸误差

德拜相机的几何参数（如直径）若存在制造或校准误差，会导致所有衍射环半径的测量值按固定比例偏差。例如，相机直径测量偏大时，计算出的点阵常数也会偏大。此类误差具有重复性，属于系统误差。

B. 底片伸缩

底片在干燥或溶剂处理过程中可能因收缩或膨胀改变尺寸。若底片尺寸变化未被校正，测量的衍射环半径会整体偏移。例如，底片收缩会导致测量半径偏小，进而影响点阵常数计算。此类误差由材料特性引起，属于系统误差。

C. 试样偏心

若试样未严格安装在相机中心，衍射环的位置会系统性偏移。例如，试样偏向某一方向会导致对应方向的衍射环半径偏大，另一侧偏小。此类误差由安装位置固定偏差引起，属于系统误差。

D. A+B+C

综上，A、B、C均为系统误差的来源，因此正确答案为D。