(多选题,2.0分)在材料分析测试中,SEM常用于( 。)A. 微区结晶学分析B. 观察表面形貌C. 物相分析D. 微区成分分析

SEM（扫描电子显微镜）是一种高分辨率的显微镜，它通过电子束扫描样品表面，产生二次电子和背散射电子等信号，从而生成样品表面的形貌图像。SEM不仅可以提供高分辨率的表面形貌信息，还可以通过能量散射谱（EDS）进行微区成分分析。然而，SEM并不适用于微区结晶学分析和物相分析，这些通常需要X射线衍射（XRD）等其他技术来完成。