下列四种研究方法中，不能测定聚合物结晶度的是(）。A. DSCB. 广角X-射线衍射C. 密度法D. 小角X-射线衍射

考查要点：本题主要考查学生对聚合物结晶度测定方法的了解，需明确不同物理方法的适用范围。

解题核心：结晶度的测定方法通常基于聚合物晶区与非晶区的物理性质差异，如热性质、密度、X射线衍射特征等。需区分不同X射线衍射技术的应用场景。

关键点：

1. 广角X射线衍射（WAXD）：通过晶面间距和衍射强度直接反映结晶度。
2. 密度法：利用晶区密度与整体密度的差异计算结晶度。
3. 差示扫描量热法（DSC）：通过熔融热计算结晶度。
4. 小角X射线衍射（SAXS）：主要用于研究纳米尺度的结构（如链间距、微相分离），不直接反映结晶度。

选项分析

A. DSC（差示扫描量热法）

DSC通过测量聚合物熔融过程中的吸热峰面积，计算熔融热。结晶度越高，熔融热越大，因此DSC可用于测定结晶度。

B. 广角X-射线衍射（WAXD）

WAXD通过检测晶面间距和衍射强度，直接反映晶区比例。结合谢乐公式或积分强度法，可定量分析结晶度。

C. 密度法

密度法基于晶区密度与非晶区密度的差异，通过测量样品实际密度，计算结晶度。公式为：
$X_c = \frac{\rho - \rho_{amorph}}{\rho_{crystal} - \rho_{amorph}}$
其中，$X_c$为结晶度，$\rho$为样品密度，$\rho_{crystal}$和$\rho_{amorph}$分别为晶区和非晶区密度。

D. 小角X-射线衍射（SAXS）

SAXS主要研究纳米尺度的结构参数（如链间距、微相分离），无法直接反映晶区比例。结晶度的测定需广角X射线数据，因此SAXS不能用于此目的。