题目

为了精确分析薄膜的晶体结构、晶格常数和择优取向，应优先选择的表征技术是？A. 扫描电子显微镜 (SEM)B. 原子力显微镜 (AFM)C. X射线衍射 (XRD)D. X射线光电子能谱 (XPS)

为了精确分析薄膜的晶体结构、晶格常数和择优取向，应优先选择的表征技术是？

A. 扫描电子显微镜 (SEM)

B. 原子力显微镜 (AFM)

C. X射线衍射 (XRD)

D. X射线光电子能谱 (XPS)

题目解答

答案

C. X射线衍射 (XRD)