直接测定粉体比表面积的方法是A. 沉降法B. 筛分法C. 显微镜法D. 气体吸附法E. 库尔特记数法

本题考查粉体比表面积的测定方法相关知识。解题思路是需要对每个选项所涉及的方法进行分析，判断其是否为直接测定粉体比表面积的方法。

• A选项：沉降法
  沉降法主要是通过测量粉体颗粒在液体介质中的沉降速度，根据斯托克斯定律等相关理论来计算颗粒的粒径大小，进而可推算出粉体的一些粒度分布等参数，但它不是直接测定粉体比表面积的方法。
• B选项：筛分法
  筛分法是利用不同孔径的筛网，将粉体按照颗粒大小进行分级，得到不同粒径范围的粉体，主要用于测定粉体的粒度分布，而不是直接测定比表面积。
• C选项：显微镜法
  显微镜法是通过显微镜直接观察粉体颗粒的形态和大小，可测量单个颗粒的尺寸，但对于大量粉体颗粒的比表面积测定，操作复杂且难以准确得到整体的比表面积，不是直接测定比表面积的常用方法。
• D选项：气体吸附法
  气体吸附法是基于气体在粉体表面的吸附现象来测定比表面积的。根据朗缪尔吸附等温线理论，当气体在固体表面达到单分子层吸附时，吸附的气体量与粉体的比表面积成正比。通过测量在一定条件下吸附气体的量，就可以直接计算出粉体的比表面积，所以气体吸附法是直接测定粉体比表面积的方法。
• E选项：库尔特记数法
  库尔特记数法是当粉体颗粒通过一个小孔时，会引起小孔内电解液电阻的变化，通过测量电阻变化的次数和幅度来计算颗粒的数量和大小，主要用于测定颗粒的粒径分布和数量，并非直接测定比表面积。