请简述扫描电子显微镜(SEM)的工作原理及其在材料表征中的应用。

答:扫描电子显微镜(SEM)通过聚焦的高能电子束扫描样品,样品与电子束相互作用会产生二次电子、背散射电子等信号。这些信号被探测器接收并转换为图像,从而得到样品表面的微观形貌。SEM在材料表征中主要应用于观察材料的微观结构、断口分析、表面缺陷分析等。