对晶格常数的精确测定可以通过哪种材料分析方法? A. X射线衍射分析B. 扫描电镜二次电子成像分析C. 扫描电镜背散射电子成像分析D. 电子探针点成分分析E. 电子探针线扫描分析

晶格常数的精确测定通常需要一种能够提供晶体结构信息的方法。X射线衍射分析（XRD）是一种广泛使用的材料分析方法，它通过测量材料对X射线的衍射来确定晶体结构参数，包括晶格常数。其他选项如扫描电镜（SEM）和电子探针（EPMA）主要用于形貌观察和成分分析，不直接提供晶格常数的信息。