半导体材料电学性能研究实验中,少子寿命的测量过程中,未放样品时调整检波电压为0后,在实验过程中不要再调检波电压调整旋钮。()A. 错B. 对

本题考查半导体材料少子寿命测量实验中检波电压调整的操作规范。关键在于理解检波电压调整的目的及实验过程中是否需要重新调整。未放样品时调整检波电压为0是为了消除初始状态的干扰，但放入样品后，样品的光电特性会影响检测信号，此时若不调整检波电压，可能导致测量误差。因此，实验过程中需要根据样品状态微调检波电压以保证数据准确性。

操作逻辑分析

1. 初始校准：未放样品时调整检波电压为0，目的是消除背景噪声，确保初始状态无偏差。
2. 样品放入后的变化：放置样品后，光生电流或光电导的变化会引起检波电压偏离初始值，此时若不调整，可能导致检测信号失真。
3. 实验要求：为保证测量精度，实验过程中需动态调整检波电压，使其始终反映样品的真实响应。因此，题目中“不再调检波电压”的做法是错误的。