题目
抑制沟道效应的方法有:A. 在表面注入一层非晶材料B. 破坏表面硅原子的排列(预先浅注入)C. 表面添加一薄层氧化物D. 将晶圆倾斜一定的角度
抑制沟道效应的方法有:
A. 在表面注入一层非晶材料
B. 破坏表面硅原子的排列(预先浅注入)
C. 表面添加一薄层氧化物
D. 将晶圆倾斜一定的角度
题目解答
答案
ABCD
A. 在表面注入一层非晶材料
B. 破坏表面硅原子的排列(预先浅注入)
C. 表面添加一薄层氧化物
D. 将晶圆倾斜一定的角度
A. 在表面注入一层非晶材料
B. 破坏表面硅原子的排列(预先浅注入)
C. 表面添加一薄层氧化物
D. 将晶圆倾斜一定的角度
解析
步骤 1:理解沟道效应
沟道效应是指在半导体器件中,由于沟道区域的电场分布不均匀,导致载流子(电子或空穴)在沟道中的运动受到限制,从而影响器件的性能。抑制沟道效应的方法可以改善器件的性能。
步骤 2:分析选项A
在表面注入一层非晶材料,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。非晶材料的引入可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 3:分析选项B
破坏表面硅原子的排列(预先浅注入),可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。破坏表面硅原子的排列可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 4:分析选项C
表面添加一薄层氧化物,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。氧化物的引入可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 5:分析选项D
将晶圆倾斜一定的角度,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。晶圆倾斜可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
沟道效应是指在半导体器件中,由于沟道区域的电场分布不均匀,导致载流子(电子或空穴)在沟道中的运动受到限制,从而影响器件的性能。抑制沟道效应的方法可以改善器件的性能。
步骤 2:分析选项A
在表面注入一层非晶材料,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。非晶材料的引入可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 3:分析选项B
破坏表面硅原子的排列(预先浅注入),可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。破坏表面硅原子的排列可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 4:分析选项C
表面添加一薄层氧化物,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。氧化物的引入可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。
步骤 5:分析选项D
将晶圆倾斜一定的角度,可以改变沟道区域的电场分布,从而抑制沟道效应。晶圆倾斜可以改变沟道区域的电荷分布,从而改善载流子的运动。