题目
离子注入的描述,正确的是?A. 入射离子的位移阈能大于Ed,发生级联碰撞B. 离子注入后退火的目的是消除晶格损伤,并使注入杂质实现电激活C. 一级近似下,无定形靶内的纵向分布可用高斯函数表示D. 能量一定的情况下,轻离子比重离子射程深
离子注入的描述,正确的是?
A. 入射离子的位移阈能大于Ed,发生级联碰撞
B. 离子注入后退火的目的是消除晶格损伤,并使注入杂质实现电激活
C. 一级近似下,无定形靶内的纵向分布可用高斯函数表示
D. 能量一定的情况下,轻离子比重离子射程深
题目解答
答案
BCD
B. 离子注入后退火的目的是消除晶格损伤,并使注入杂质实现电激活
C. 一级近似下,无定形靶内的纵向分布可用高斯函数表示
D. 能量一定的情况下,轻离子比重离子射程深
B. 离子注入后退火的目的是消除晶格损伤,并使注入杂质实现电激活
C. 一级近似下,无定形靶内的纵向分布可用高斯函数表示
D. 能量一定的情况下,轻离子比重离子射程深
解析
本题考查离子注入相关知识,涉及位移阈能、退火目的、无定形靶的纵向分布及离子射程的影响因素。关键点在于:
- 位移阈能是靶材料的属性,而非入射离子的属性;
- 退火的作用包括消除晶格损伤和电激活杂质;
- 无定形靶的纵向分布符合高斯分布;
- 轻离子射程比重大离子深。
选项A
错误。位移阈能是靶材料原子被击出所需的最小能量,而非入射离子的属性。若入射离子能量超过靶材料的位移阈能,才会引发级联碰撞。选项中将位移阈能错误归为入射离子的属性,表述不准确。
选项B
正确。退火通过消除离子注入产生的晶格缺陷(如空位、间隙原子),恢复晶体结构,并促进杂质原子迁移到正确位置,实现电激活(如半导体中杂质的导电性激活)。
选项C
正确。无定形靶缺乏长程有序结构,离子注入时能量损失均匀,纵向分布呈现统计规律性,可用高斯函数描述。
选项D
正确。轻离子(如B)质量小,在相同能量下速度更快,与原子碰撞次数少,射程更深;而重离子(如Si)因质量大,速度较慢,射程更短。