题目
下列说法正确的是()A. 光谱线的强度与跃迁能级的能量差、高能级上的原子总数及跃迁概率有关B. 自吸现象与待测元素的浓度有关,浓度越低,自吸越严重。C. 自吸现象是由于激发态原子与基态原子之间的相互碰撞失去能量所造成的。D. 光谱线的强度与温度有关,一般温度越高,原子光谱线强度越大。
下列说法正确的是()
A. 光谱线的强度与跃迁能级的能量差、高能级上的原子总数及跃迁概率有关
B. 自吸现象与待测元素的浓度有关,浓度越低,自吸越严重。
C. 自吸现象是由于激发态原子与基态原子之间的相互碰撞失去能量所造成的。
D. 光谱线的强度与温度有关,一般温度越高,原子光谱线强度越大。
题目解答
答案
AC
A. 光谱线的强度与跃迁能级的能量差、高能级上的原子总数及跃迁概率有关
C. 自吸现象是由于激发态原子与基态原子之间的相互碰撞失去能量所造成的。
A. 光谱线的强度与跃迁能级的能量差、高能级上的原子总数及跃迁概率有关
C. 自吸现象是由于激发态原子与基态原子之间的相互碰撞失去能量所造成的。