题目
按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:关于扫查灵敏度的概念是: ( )A. 扫查灵敏度用于对缺陷定量和等级评定的灵敏度。 B. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,用于对缺陷定量和等级评定的灵敏度。 C. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,通常不低于基准灵敏度。 D. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,比基准灵敏度提高6dB. E. 质子 F. 中子 G. 质子加中子 电子 202.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子(d) a.核中的质子数 b.核中的中子数 c.核外的电子数 d.a和c都对 203.原子的质量数就是(c): 原子的重量 原子的质子、中子与电子数的总和 原子核中质子与中子数的总和 204.在原子的原子核内带正电荷的是(c): 中子 电子 质子 光子 205.原子的质量是指(a): 质子数加中子数 质子数加电子数 中子数加电子数 原子序数 206.原子核的正电荷等于(b): 中子数 原子序数 光子数 原子量 207.原子核中的质子数与(d)相等: 中子数 电子数 质量数 原子序数 208.光量子与质子、中子、电子的一个重要不同是(d): 质量更小 不带电荷 速度更快 以上都不是 209.原子核内的质子和中子的质量(a) a.基本相等 b.完全不同 c.中子的质量是质子的一半 d.质子的质量是中子的一半 210.放射性同位素在单位时间内的原子衰变数称为(a): 放射性活度 放射性比活度 半衰期 平均寿命 211.单位重量的放射性同位素在单位时间内的原子衰变数称为(b) a.放射性活度 b.放射性比活度 c.半衰期 d.平均寿命 212.单色射线是指(d) 标识Χ射线 γ源产生的射线 X射线穿透厚工件时,有何特征?(c) a. 第二半价层小于第一半价层 b. 第二半价层等于第一半价层; c. 第二半价层大于第一半价层 d. 实际半价层小于计算值
按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:关于扫查灵敏度的概念是: ( )
A. 扫查灵敏度用于对缺陷定量和等级评定的灵敏度。B. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,用于对缺陷定量和等级评定的灵敏度。
C. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,通常不低于基准灵敏度。
D. 扫查灵敏度是实际检测灵敏度,比基准灵敏度提高6dB.
E. 质子
F. 中子
G. 质子加中子
电子 202.原子序数是标志元素在元素周期表中次序的序号,亦即是该元素原子(d) a.核中的质子数 b.核中的中子数 c.核外的电子数 d.a和c都对 203.原子的质量数就是(c):
原子的重量
原子的质子、中子与电子数的总和
原子核中质子与中子数的总和 204.在原子的原子核内带正电荷的是(c):
中子
电子
质子
光子 205.原子的质量是指(a):
质子数加中子数
质子数加电子数
中子数加电子数
原子序数 206.原子核的正电荷等于(b):
中子数
原子序数
光子数
原子量 207.原子核中的质子数与(d)相等:
中子数
电子数
质量数
原子序数 208.光量子与质子、中子、电子的一个重要不同是(d):
质量更小
不带电荷
速度更快
以上都不是 209.原子核内的质子和中子的质量(a) a.基本相等 b.完全不同 c.中子的质量是质子的一半 d.质子的质量是中子的一半 210.放射性同位素在单位时间内的原子衰变数称为(a):
放射性活度
放射性比活度
半衰期
平均寿命 211.单位重量的放射性同位素在单位时间内的原子衰变数称为(b) a.放射性活度 b.放射性比活度 c.半衰期 d.平均寿命 212.单色射线是指(d)
标识Χ射线
γ源产生的射线
X射线穿透厚工件时,有何特征?(c) a. 第二半价层小于第一半价层 b. 第二半价层等于第一半价层; c. 第二半价层大于第一半价层 d. 实际半价层小于计算值
题目解答
答案
C
解析
本题考查对扫查灵敏度概念的理解,需结合标准《承压设备无损检测》的相关规定。关键点在于区分扫查灵敏度与基准灵敏度的关系:
- 扫查灵敏度是实际检测中使用的灵敏度,需满足检测要求;
- 基准灵敏度是校准和调整的基础,扫查灵敏度通常不低于基准灵敏度;
- 错误选项可能混淆扫查灵敏度的用途(如仅用于缺陷定量)或具体调整数值(如固定提高6dB)。
选项分析
- A:错误。扫查灵敏度的核心作用是实际检测,而不仅仅是缺陷定量和等级评定。
- B:错误。虽然提到“实际检测灵敏度”,但未准确说明其与基准灵敏度的关系。
- C:正确。明确指出扫查灵敏度是实际检测灵敏度,并强调“通常不低于基准灵敏度”,符合标准规定。
- D:错误。提高6dB是特定调整方式,但题目未限定具体数值,表述不全面。