(4分)大多数β-D-苷键端基碳的化学位移在（ ）A. δppm 90~95B. δppm 96~100C. δppm 100~105D. δppm106~110E. δppm 110~115

考查要点：本题主要考查学生对糖类化合物中β-D-苷键端基碳化学位移范围的记忆与理解，属于核磁共振（NMR）化学知识的应用。

解题核心思路：

1. 明确苷键类型：β-D-苷键的结构特点（D-糖的半缩醛羟基在β位与另一分子形成缩醛结构）。
2. 化学位移影响因素：端基碳连接氧原子，受去屏蔽效应影响，且β构型导致特定电子环境。
3. 典型数据记忆：β-D-苷键端基碳的化学位移范围为100~105 ppm，需区分α型与其他糖类型。

破题关键点：

• 区分α/β苷键对化学位移的影响。
• 结合D-糖的结构特点，锁定β型的特征范围。

β-D-苷键端基碳的化学位移特点：

1. 结构特征：端基碳是连接苷元的碳原子，与氧形成缩醛键，处于β构型。
2. 电子环境：
   • 氧原子的电负性导致端基碳电子云密度降低（去屏蔽效应）。
   • β构型的空间排列进一步影响邻近电子分布。
3. 典型范围：
   • β-D-苷键的端基碳化学位移通常在100~105 ppm（选项C）。
   • α-D-苷键的端基碳化学位移较低（约95~100 ppm），但题目未涉及α型。

选项分析：

• A（90~95 ppm）：过低，不符合β-D-苷键特征。
• B（96~100 ppm）：接近α型范围，排除。
• C（100~105 ppm）：正确，符合β-D-苷键典型数据。
• D（106~110 ppm）、E（110~115 ppm）：过高，可能对应其他特殊结构（如高度去屏蔽环境），但非大多数情况。