在电子探针分析方法中,把 X射线谱仪固定在某一波长,使电子束在样品表面扫描得到样品的形貌相和元素的成分分布像,这种分析方法是( )A. 点分析 B. 线分析 C. 面分析

电子探针分析方法中，通过固定X射线谱仪在某一波长，并使电子束在样品表面进行扫描，可以得到样品的形貌相和元素的成分分布像。这种分析方法被称为面分析，因为它能够提供样品表面的二维分布信息。