用显微熔点测定仪测熔点时，升温速度太快，对测定结果的影响是:A. 熔点偏低,熔程变窄。B. 熔点偏高，熔程变宽。C. 熔点偏高,熔程变窄。D. 不影响测定结果。

考查要点：本题主要考查显微熔点测定中升温速度对结果的影响，涉及实验操作细节与结果分析能力。

解题核心思路：
显微熔点测定需缓慢升温，确保样品有足够时间熔化。若升温过快，会导致温度读数滞后，使记录的熔点偏高，同时熔化过程被压缩在更小的温度范围内，熔程变窄。但需注意，实际实验中升温过快可能因观察误差导致熔程看似变宽。本题需结合选项逻辑判断。

破题关键点：

• 熔点偏高：升温快时，实际温度已超过熔点，但观察者仍记录当前温度，导致熔点被高估。
• 熔程变宽：快速升温可能使熔化过程的温度范围被拉大，或因操作误差导致熔程看似变宽。

显微熔点测定要求缓慢升温，确保样品逐步熔化，便于准确观察状态变化。若升温速度过快：

1. 熔点偏高：温度计显示的温度与样品实际温度存在滞后，当观察到初熔时，实际温度可能已高于真实熔点，导致记录值偏高。
2. 熔程变宽：快速升温使样品在较宽的温度范围内熔化，或因操作者难以准确判断初熔和全熔的瞬间，导致熔程范围扩大。

选项B（熔点偏高，熔程变宽）符合上述分析。