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材料科学
题目

________________它是指穿过样品且散射角度小的那些电子即弹性散射所形成的衬度散射衬度与样品的密度、原子序数、厚度等因素有关。主要用来观察非晶试样和复形膜样品所成图像。________________是由晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。根据衍射衬度原理形成的电子图像称为衍射衬度像。利用这种图像可观察晶体缺陷,如位错、层错等。________与什么因素有关?为什么?最适宜观察什么?(重点)二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子,二次电子的衬度与两个因素有关:(1)入射电子的能量,入射电子能量在2-3KW时,二次电子发射系数达到最大,衬度明显(2)入射电子束在试样表面的倾斜角度,因为δ(θ)=δ0/cosθ,当倾斜角度增加时,二次电子发射系数增大,衬度也明显。二次电子像也最适宜观察试样的表面形貌。________?为什么?最适宜观察什么?(重点)背散射电子是指入射电子与试样的相互作用经多次散射后,重新逸出试样表面的电子。背散射电子衬度与试样的形貌及成分有关,因为背散射电子的产额随试样原子序数的增大而增大,其来自试样表面几百纳米的深度范围。背散射电子衬度最适宜观察试样的平均原子序数兼形貌。________________?(重点)________________主要用外推始点温度和峰值温度来表征。其中外推始点温度受实验条件影响小。________曲线开始偏离基线那点的切线与曲线最大斜率的切线的交点。拉曼位移:拉曼散射光与入射光频率之差。________________________:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;________用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。(重点)________表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。(重点)________:散射光中散射强度中约有1%的光频率与入射光束的频率不同。除在入射光频率处有一强的瑞利散射线外,在它的较高和较低频率处还有比它弱得多的谱线。________________入射电子与试样的相互作用经多次散射后,重新逸出试样表面的电子。粉________利用X射线的电离效应及荧光效应,由辐射探测器来测定记录衍射线的方向和强度。________:用聚焦电子束照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长的特征X射线,用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱,根据波长不同进行定性分析,根据特征X射线强度进行定量分析________:定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析和定点定量分析.________________1热重测量法TG 2差热分析DTA 3差示扫描量热法DSC 4热膨胀测量法________:1加热炉2温度控制系统3信号放大系统4差热系统5记录系统________________________记录起始点为起点所作平行于横坐标的理想直线表示试样和参比物间温度差为零.________T近似于0的部分,该段曲线指示试样发生吸收热效应产生.________________________在程序控制温度下,测量输入到物质和参比物的功率差与温度关系的一种技术________:粉末法,劳厄法,转晶法________________:字顺索引,哈那瓦尔特索引,劳克法索引,常见物相索引.________________________,不论它所处的________,它发出的________________________________:一个特征X射线谱系的临界激发波长.应用:合理地选用滤波片材料和辐射源的波长(即选阳极靶材料)以便获得优质的花样衍射.________________累积强度或积分强度):指某一组面网衍射的X射线光量子的总数.________:是用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而可得出的强度相对比值.________是将待________________________在定性的基础上进行的.物相定量分析是用X射线方法来测定混合物相中各种物相的含量百分数.________:1用一定的实验方法获得待测试样的衍射花样2计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I 3参考对比已知的资料鉴定出试样的物相物相定量分析最常用的方法为________________________________________________方法:直接法:粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品间接法:一级复型、二级复型半直接法:萃取复型.________表面形貌衬度,它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的一种像衬度________:入射电子与试样相互作用后,能量耗尽的电子.电子探针分析方法方法:________________________________以记录起始点为起点所作平行于横坐标的理想直线表示试样和参比物间温度差为零.________________即T近似于0的部分,该段曲线指示试样发生吸收热效应产生.________________________素1.升温速度3.试样周围气氛4.试样因素________________________________________________________________________________________:满足布拉格方程且Fhkl结构因子不等于零.________:多重性因子P,结构因子F,角因子(1+Cos22θ)/Sin2θCosθ,温度因子e-2M,吸收因子A________________________:聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,二次电子(最主要),背散射电子或吸收电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子.________________________:发射方式反射方式吸收方式投射方式俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式________:一方面是________,另一方面是________。分辨本领:是指成像系统或系统的一个部件的分辨能力,又称分辨率。即成像系统或系统元件能有差别地区分开相邻物件最小间距的能力。________________________定义:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。产生机理:高速运动热电子的动能变成电磁波辐射能。数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波具有连续的各种波长。根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。________________________①各种波长射线的________;②各曲线上都有________;③各曲线的________________________________定义:具有特定波长的X射线,也称单色X射线。特征X射线的产生机理:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。________________物质对x射线的吸收主要是由原子内部的电子跃迁尔引起的。在这个过程中发生x射线的光电效应和俄歇效应,使部分x射线能量转变成光电子,荧光x射线及俄歇电子的能量。因此x射线的强度被减弱布拉格方程式中各符号的物理意义是什么?该公式有哪些应用?布拉格方程:满足衍射的条件为:2dsinθ=nλd为面间距,θ为入射线、反射线与反射晶面之间的交角,称掠射角或布拉格角,而2θ为入射线与反射线(衍射线)之间的夹角,称衍射角,n为整数,称反射级数,λ为入射线波长。布拉格方程应用:布拉格方程是X射线衍射分布中最重要的基础公式,它形式简单,能够说明衍射的基本关系,一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析------ X射线衍射学;另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的波长还可确定试样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。________

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它是指穿过样品且散射角度小的那些电子即弹性散射所形成的衬度散射衬度与样品的密度、原子序数、厚度等因素有关。主要用来观察非晶试样和复形膜样品所成图像。

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是由晶体薄膜内各部分满足衍射条件的程度不同而形成的衬度。根据衍射衬度原理形成的电子图像称为衍射衬度像。利用这种图像可观察晶体缺陷,如位错、层错等。

________与什么因素有关?为什么?最适宜观察什么?(重点)

二次电子是指在入射电子作用下被轰击出来并离开样品表面的原子的核外电子,二次电子的衬度与两个因素有关:

(1)入射电子的能量,入射电子能量在2-3KW时,二次电子发射系数达到最大,衬度明显

(2)入射电子束在试样表面的倾斜角度,因为δ(θ)=δ0/cosθ,当倾斜角度增加时,二次电子发射系数增大,衬度也明显。二次电子像也最适宜观察试样的表面形貌。

________?为什么?最适宜观察什么?(重点)

背散射电子是指入射电子与试样的相互作用经多次散射后,重新逸出试样表面的电子。背散射电子衬度与试样的形貌及成分有关,因为背散射电子的产额随试样原子序数的增大而增大,其来自试样表面几百纳米的深度范围。背散射电子衬度最适宜观察试样的平均原子序数兼形貌。

________________?(重点)________

________主要用外推始点温度和峰值温度来表征。其中外推始点温度受实验条件影响小。

________曲线开始偏离基线那点的切线与曲线最大斜率的切线的交点。

拉曼位移:拉曼散射光与入射光频率之差。

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________:用物镜光栏挡去衍射束,让透射束成像,有衍射的为暗像,无衍射的为明像,这样形成的为明场像;

________用物镜光栏挡去透射束和及其余衍射束,让一束强衍射束成像,则无衍射的为暗像,有衍射的为明像,这样形成的为暗场像。(重点)

________表示电镜所能分辨的两个点之间的最小距离;线分辨率表示电镜所能分辨的两条线之间的最小距离。(重点)

________:散射光中散射强度中约有1%的光频率与入射光束的频率不同。除在入射光频率处有一强的瑞利散射线外,在它的较高和较低频率处还有比它弱得多的谱线。

________________入射电子与试样的相互作用经多次散射后,重新逸出试样表面的电子。

粉________利用X射线的电离效应及荧光效应,由辐射探测器来测定记录衍射线的方向和强度。

________:用聚焦电子束照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长的特征X射线,用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱,根据波长不同进行定性分析,根据特征X射线强度进行定量分析

________:定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析和定点定量分析.

________________1热重测量法TG 2差热分析DTA 3差示扫描量热法DSC 4热膨胀测量法

________:1加热炉2温度控制系统3信号放大系统4差热系统5记录系统

________________________记录起始点为起点所作平行于横坐标的理想直线表示试样和参比物间温度差为零.

________T近似于0的部分,该段曲线指示试样发生吸收热效应产生.

________________________在程序控制温度下,测量输入到物质和参比物的功率差与温度关系的一种技术________:粉末法,劳厄法,转晶法

________________:字顺索引,哈那瓦尔特索引,劳克法索引,常见物相索引.

________________________,不论它所处的________,它发出的________________________

________:一个特征X射线谱系的临界激发波长.应用:合理地选用滤波片材料和辐射源的波长(即选阳极靶材料)以便获得优质的花样衍射.

________________累积强度或积分强度):指某一组面网衍射的X射线光量子的总数.

________:是用某种规定的标准去比较各个衍射线条的强度而可得出的强度相对比值.

________是将待________________

________在定性的基础上进行的.物相定量分析是用X射线方法来测定混合物相中各种物相的含量百分数.

________:1用一定的实验方法获得待测试样的衍射花样2计算并列出衍射花样中各衍射线的d值和相应的相对强度I 3参考对比已知的资料鉴定出试样的物相

物相定量分析最常用的方法为________________________

________________________方法:直接法:粉末颗粒样品、超薄切片、直接薄膜样品间接法:一级复型、二级复型半直接法:萃取复型.

________表面形貌衬度,它是利用对样品表面形貌变化敏感的物理信号作为调节信号得到的一种像衬度

________:入射电子与试样相互作用后,能量耗尽的电子.

电子探针分析方法方法:________________

________________以记录起始点为起点所作平行于横坐标的理想直线表示试样和参比物间温度差为零.

________________即T近似于0的部分,该段曲线指示试样发生吸收热效应产生.

________________________素1.升温速度3.试样周围气氛4.试样因素

________________________________________________

________________________________

________:满足布拉格方程且Fhkl结构因子不等于零.

________:多重性因子P,结构因子F,角因子(1+Cos22θ)/Sin2θCosθ,温度因子e-2M,吸收因子A

________________________:聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像,二次电子(最主要),背散射电子或吸收电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子.

________________________:发射方式反射方式吸收方式投射方式俄歇电子方式、X射线方式、阴极发光方式、感应信号方式

________:一方面是________,另一方面是________。

分辨本领:是指成像系统或系统的一个部件的分辨能力,又称分辨率。即成像系统或系统元件能有差别地区分开相邻物件最小间距的能力。

________________________定义:是具有连续变化波长的X射线,也称多色X射线。

产生机理:高速运动热电子的动能变成电磁波辐射能。数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波具有连续的各种波长。根据经典物理学的理论,一个带负电荷的电子作加速运动时,电子周围的电磁场将发生急剧变化,此时必然要产生一个电磁波,或至少一个电磁脉冲。由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。

________________________①各种波长射线的________;②各曲线上都有________;③各曲线的________

________________________定义:具有特定波长的X射线,也称单色X射线。

特征X射线的产生机理:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K、L、M、N等不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X射线。

________________物质对x射线的吸收主要是由原子内部的电子跃迁尔引起的。在这个过程中发生x射线的光电效应和俄歇效应,使部分x射线能量转变成光电子,荧光x射线及俄歇电子的能量。因此x射线的强度被减弱

布拉格方程式中各符号的物理意义是什么?该公式有哪些应用?

布拉格方程:满足衍射的条件为:2dsinθ=nλd为面间距,θ为入射线、反射线与反射晶面之间的交角,称掠射角或布拉格角,而2θ为入射线与反射线(衍射线)之间的夹角,称衍射角,n为整数,称反射级数,λ为入射线波长。布拉格方程应用:布拉格方程是X射线衍射分布中最重要的基础公式,它形式简单,能

够说明衍射的基本关系,一方面是用已知波长的X射线去照射晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d,这就是结构分析------ X射线衍射学;另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出来的X射线,通过衍射角的测量求得X射线的波长,这就是X射线光谱学。该法除可进行光谱结构的研究外,从X射线的波长还可确定试样的组成元素。电子探针就是按这原理设计的。

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题目解答

答案

13. 散射衬度与什么因素有关?这种图像主要用来观察什么? . 衍衬象的衬度是怎么产生的?利用这种图像可观察干什么? 何谓二次电子?扫描电镜中二次电子像的衬度 何谓背散射电子?扫描电镜中背散射电子衬度与什么因素有关 X 射线显微分析方法有哪三种 定点分析、线扫描分析、面扫描分析 在差热分析曲线上一个峰谷的温度主要用什么来表征?哪个受实验条件影响小? 如何确定外推始点温度?(重点) X 射线衍射方向:两种相干波的光程差是波长整数倍的方向。(重点) 明暗场像 暗场像 点分辨率 拉曼效应 背散射电子 : 晶衍射仪法 电子探针工作原理 电子探针分析方法方法 热分析方法 : 差热分析仪基本结构 零线 : 以 基线即 DSC( 差热扫描法 ): 最基本的衍射实验方法有三种 JCPDS 卡片索引手册 莫赛来定律 : 只要是同种原子 物理状态和化学状态如何 特征 X 射线均具有相同的波长 吸收限 绝对强度 ( 相对强度 物相定性分析 测物质的衍射数据与各种已知物质的衍射数据对比来进行的 , 定量分析是 定性分析步骤 集体清洗法( K 值法) 透射电镜 TEM 样品制备 二次电子像 吸收电子 定点定性分析、线扫描分析、面扫描分析和定点定量分析 . 零线 : 基线 : 影响热重 TG 曲线的主要因 波谱仪(WDS) :利用特征 x 射线的波长不同来展谱,实现对不同波长 x 射线分别的检测的波长色谱仪 能谱仪(EDS) 利用特征 x 射线的能量不同来展谱的能量色散谱仪 产生衍射的充分条件 影响衍射强度的因素 扫描电子显微镜 SEM 镜成像信号 S EM 的主要工作方式有 衍射花样由两个方面组成 衍射线在空间的分布规律 衍射线束的强度 连续 X 射线谱 特 点 : 相对强度都相应地增高 短波极限,且短波极限值逐渐变小 最高强度值的波长逐渐变小。 特征 X 射线谱 X 射线吸收: 影响多晶体衍射强度各因子的物理意义是什么?结构因子与哪些因素有关系?

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