裂隙灯显微镜检查原理中由于光线的折射现象-|||-及光学方法增大物象,则可利用()显微镜查见 ()-|||-精细的结构-|||-A 较低倍-|||-B 低倍-|||-C 高倍-|||-D 中倍

裂隙灯显微镜检查原理中，光线的折射现象及光学方法增大物象，使得较低倍显微镜能够查见精细的结构。这是因为较低倍显微镜在放大倍数较低的情况下，能够提供更广阔的视野，同时通过光学方法增大物象，使得观察者能够清晰地看到细微的结构。